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EDA考試復(fù)習(xí)試題及答案
現(xiàn)如今,我們會經(jīng)常接觸并使用練習(xí)題,學(xué)習(xí)需要做題,是因?yàn)檫@樣一方面可以了解你對知識點(diǎn)的掌握,熟練掌握知識點(diǎn)!同時(shí)做題還可以鞏固你對知識點(diǎn)的運(yùn)用!你知道什么樣的習(xí)題才是好習(xí)題嗎?以下是小編幫大家整理的EDA考試復(fù)習(xí)試題及答案,供大家參考借鑒,希望可以幫助到有需要的朋友。
EDA考試復(fù)習(xí)試題及答案 1
一、選擇題:(20分)
1.下列是EDA技術(shù)應(yīng)用時(shí)涉及的步驟:
A. 原理圖/HDL文本輸入; B. 適配; C. 時(shí)序仿真; D. 編程下載; E. 硬件測試; F. 綜合
請選擇合適的項(xiàng)構(gòu)成基于EDA軟件的FPGA / CPLD設(shè)計(jì)流程:
A → ___F___ → ___B__ → ____C___ → D → ___E____
2.PLD的可編程主要基于A. LUT結(jié)構(gòu) 或者 B. 乘積項(xiàng)結(jié)構(gòu):
請指出下列兩種可編程邏輯基于的可編程結(jié)構(gòu):
FPGA 基于 ____A_____
CPLD 基于 ____B_____
3.在狀態(tài)機(jī)的具體實(shí)現(xiàn)時(shí),往往需要針對具體的器件類型來選擇合適的狀態(tài)機(jī)編碼。
對于A. FPGA B. CPLD 兩類器件:
一位熱碼 狀態(tài)機(jī)編碼方式 適合于 ____A____ 器件;
順序編碼 狀態(tài)機(jī)編碼方式 適合于 ____B____ 器件;
4.下列優(yōu)化方法中那兩種是速度優(yōu)化方法:____B__、__D__
A. 資源共享 B. 流水線 C. 串行化 D. 關(guān)鍵路徑優(yōu)化
單項(xiàng)選擇題:
5.綜合是EDA設(shè)計(jì)流程的`關(guān)鍵步驟,綜合就是把抽象設(shè)計(jì)層次中的一種表示轉(zhuǎn)化成另一種表示的過程;在下面對綜合的描述中,___D___是錯誤的。
A. 綜合就是將電路的高級語言轉(zhuǎn)化成低級的,可與FPGA / CPLD的基本結(jié)構(gòu)相映射的網(wǎng)表文件;
B. 為實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的速度、面積、性能的要求,需要對綜合加以約束,稱為綜合約束;
C. 綜合可理解為,將軟件描述與給定的硬件結(jié)構(gòu)用電路網(wǎng)表文件表示的映射過程,并且這種映射關(guān)系不是唯一的。
D. 綜合是純軟件的轉(zhuǎn)換過程,與器件硬件結(jié)構(gòu)無關(guān);
6.嵌套的IF語句,其綜合結(jié)果可實(shí)現(xiàn)___D___。
A. 條件相與的邏輯
B. 條件相或的邏輯
C. 條件相異或的邏輯
D. 三態(tài)控制電路
7.在一個VHDL設(shè)計(jì)中Idata是一個信號,數(shù)據(jù)類型為std_logic_vector,試指出下面那個賦值語句是錯誤的。D
A. idata <= “00001111”;
B. idata <= b”0000_1111”;
C. idata <= X”AB”;
D. idata <= B”21”;
8.在VHDL語言中,下列對時(shí)鐘邊沿檢測描述中,錯誤的是__D___。
A. if clk’event and clk = ‘1’ then
B. if falling_edge(clk) then
C. if clk’event and clk = ‘0’ then
D.if clk’stable and not clk = ‘1’ then
9.請指出Altera Cyclone系列中的EP1C6Q240C8這個器件是屬于__C___
A. ROM B. CPLD C. FPGA D.GAL
二、EDA名詞解釋,(10分)
寫出下列縮寫的中文(或者英文)含義:
1.ASIC 專用集成電路
2.FPGA 現(xiàn)場可編程門陣列
3.CPLD 復(fù)雜可編程邏輯器件
4.EDA 電子設(shè)計(jì)自動化
5.IP 知識產(chǎn)權(quán)核
6.SOC 單芯片系統(tǒng)
EDA考試復(fù)習(xí)試題及答案 2
選擇題
大規(guī)?删幊唐骷饕 FPGA、CPLD 兩類,下列對 CPLD 結(jié)構(gòu)與工作原理的描述中,正確的是( )。
A. CPLD 是基于查找表結(jié)構(gòu)的可編程邏輯器件
B. CPLD 即是現(xiàn)場可編程邏輯器件的英文簡稱
C. 初期的 CPLD 是從 FPGA 的結(jié)構(gòu)擴(kuò)展而來
D. 在 Xilinx 公司生產(chǎn)的器件中,XC9500 系列屬 CPLD 結(jié)構(gòu)
基于 VHDL 設(shè)計(jì)的`仿真包括有①門級時(shí)序仿真、②行為仿真、③功能仿真和④前端功能仿真這四種,按照自頂向下的設(shè)計(jì)流程,其先后次序應(yīng)當(dāng)是( )。
A. ①②③④
B. ②①④③
C. ④③②①
D. ②④③①
下面對運(yùn)用原理圖輸入設(shè)計(jì)方法進(jìn)行數(shù)字電路系統(tǒng)設(shè)計(jì),哪一種說法是正確的( )。
A. 原理圖輸入設(shè)計(jì)方法直觀便捷,很適合完成較大規(guī)模的電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)
B. 原理圖輸入設(shè)計(jì)方法多用于較規(guī)范、規(guī)模不大的電路設(shè)計(jì),和 HDL 代碼描述方法均可以被綜合,相得益彰
C. 原理圖輸入設(shè)計(jì)方法無法對電路進(jìn)行功能描述
D. 原理圖輸入設(shè)計(jì)方法不適合進(jìn)行層次化設(shè)計(jì)
在 VHDL 語言中,下列對進(jìn)程(PROCESS)語句的語句構(gòu)造及語法規(guī)則的描述中,不正確的是( )。
A. PROCESS 為一無限循環(huán)語句
B. 敏感信號發(fā)生更新時(shí)啟動進(jìn)程,執(zhí)行完畢后,等待下一次進(jìn)程啟動
C. 當(dāng)前進(jìn)程中申明的變量不可用于其他進(jìn)程
D. 進(jìn)程由說明語句部分、并行語句部分和敏感信號參數(shù)表三部分構(gòu)成
對于信號和變量的說法,哪一種是不正確的( )。
A. 信號用于作為進(jìn)程中局部數(shù)據(jù)存儲單元
B. 變量的賦值是立即完成的
C. 信號在整個構(gòu)造體內(nèi)的任何地方都能合用
D. 變量和信號的賦值符號不一樣
答案:1. D 2. D 3. B 4. D 5. A
EDA考試復(fù)習(xí)試題及答案 3
選擇題
下列是 EDA 技術(shù)應(yīng)用時(shí)涉及的步驟:A. 原理圖 / HDL 文本輸入;B. 適配;C. 時(shí)序仿真;D. 編程下載;E. 硬件測試;F. 綜合。請選擇合適的`項(xiàng)構(gòu)成基于 EDA 軟件的 FPGA/CPLD 設(shè)計(jì)流程( )。
PLD 的可編程主要基于 A. LUT 結(jié)構(gòu)或者 B. 乘積項(xiàng)結(jié)構(gòu),請指出下列兩種可編程邏輯基于的可編程結(jié)構(gòu):Altera Cyclone 系列屬于( )。
在一個 VHDL 設(shè)計(jì)中 idata 是一個信號,數(shù)據(jù)類型為 std_logic_vector,試指出下面那個賦值語句是錯誤的( )。
A. idata <= “00001111”;
B. idata <= b”0000_1111”;
C. idata <= X”AB”;
D. idata <= B”21”
在 VHDL 語言中,下列對時(shí)鐘邊沿檢測描述中,錯誤的是( )。
A. if clk’event and clk = ‘1’ then
B. if falling_edge (clk) then
C. if clk’event and clk = ‘0’ then
D. if clk’stable and not clk = ‘1’ then
請指出 Altera Cyclone 系列中的 EP1C6Q240C8 這個器件是屬于( )。
A. ROM
B. CPLD
C. FPGA
D. GAL
答案:1. AFBCE(如果是完整流程還可在 C 后加上 D,即 AFBCDE) 2. A(Cyclone 系列基于 LUT 結(jié)構(gòu)) 3. D 4. D 5. C
EDA考試復(fù)習(xí)試題及答案 4
名詞解釋
ASIC
FPGA
IP
FSM
HDL
JTAG
答案3
專用集成電路。
現(xiàn)場可編程門陣列。
知識產(chǎn)權(quán)核(軟件包)。
有限狀態(tài)機(jī)。
硬件描述語言。
JTAG,joint test action group,聯(lián)合測試行動小組的簡稱,又意指其提出的一種硬件測試標(biāo)準(zhǔn),常用于器件測試、編程下載和配置等操作。
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